表面科学
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特集 : 窒化物半導体表面の研究の現状
サファイア基板上III族窒化物半導体成長における低温堆積層
天野 浩赤〓 勇
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2000 年 21 巻 3 号 p. 126-133

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抄録

Surface control by low-temperature deposited buffer layer enables the growth of high-quality GaN on a sapphire substrate the lattice mismatch of which is as large as 14%. With use of such highly mismatched systems, novel electronic devices such as new lighting source which replaces conventional light bulb, super-high-density optical storage systems, high-power and high-speed transistors and UV image sensors for remote sensing and flame detection will be realized. This paper describes the details of the mechanism of this surface control technology.

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