表面科学
Online ISSN : 1881-4743
Print ISSN : 0388-5321
ISSN-L : 0388-5321
特集:反射高速電子回折の最近の発展
高速ビームロッキング法による反射高速電子線回折強度の測定とその応用
重田 諭吉
著者情報
ジャーナル フリー

2003 年 24 巻 3 号 p. 128-135

詳細
抄録

The rocking curve of reflection high-energy electron diffraction (RHEED) is widely used to determine surface structures. We have built up a new apparatus of RHEED system with two pairs of magnetic coils to measure accurately the rocking curves in short time. By using this system, we succeeded in the studies of effective surface Debye temperature, dynamic structure change during epitaxial growth of Si/Si(111) and surface structure at high temperature near the melting point, and discovered an additional surface phase on the Si(111) surface. In this review, I report the new apparatus and some results of surface phase transition of the Si(111) surface at high temperatures.

著者関連情報

この記事はクリエイティブ・コモンズ [表示 - 非営利 4.0 国際]ライセンスの下に提供されています。
https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/deed.ja
前の記事 次の記事
feedback
Top