ポピュラーサイエンス
反射高速電子回折図形解釈の練習問題
2004 年 25 巻 6 号 p. 363-369
詳細
2004 年 25 巻 6 号 p. 363-369
Analyses and assignments of reflection high-energy electron diffraction patterns of Si(100) surfaces are demonstrated for the practice. Several check points for the RHEED analysis are described.
