ソフトナノテクノロジーのための計測技術

藤井 政俊; 平野 愛弓; 山口 僚太郎; 木村 康男; 庭野 道夫; 杉山 滋; 山内 武志; 吉野 智之; 桑崎 誠剛; 山本 公子; 大谷 敏郎

doi:10.1380/jsssj.30.219

特集：ソフトナノテクノロジー部会特集

ソフトナノテクノロジーのための計測技術

藤井政俊 ^†, 平野愛弓 ^†, 山口僚太郎 ^†, 木村康男 ^†, 庭野道夫 ^†, 杉山滋 ^†, 山内武志 ^†, 吉野智之 ^†, 桑崎誠剛 ^†, 山本公子 ^†, 大谷敏郎 ^†

著者情報

藤井政俊 ^†
島根大学医学部
平野愛弓 ^†
東北大学大学院医工学研究科
山口僚太郎 ^†
東北大学電気通信研究所
木村康男 ^†
東北大学電気通信研究所
庭野道夫 ^†
東北大学大学院医工学研究科
東北大学電気通信研究所
杉山滋 ^†
独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構・食品総合研究所
山内武志 ^†
独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構・食品総合研究所
吉野智之 ^†
独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構・食品総合研究所
桑崎誠剛 ^†
独立行政法人生物資源研究所
山本公子 ^†
独立行政法人生物資源研究所
大谷敏郎 ^†
独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構・食品総合研究所
著者の貢献

†藤井政俊, 平野愛弓, 山口僚太郎, 木村康男, 庭野道夫, 杉山滋, 山内武志, 吉野智之, 桑崎誠剛, 山本公子, 大谷敏郎は本研究に等しく貢献した。

ジャーナルフリー

2009 年 30 巻 4 号 p. 219-228

DOI https://doi.org/10.1380/jsssj.30.219

詳細

抄録

The soft-nanotechnology that treats softmatter in nanometer scale needs to develop proper and original techniques for analyzing and handling the softmatter. The surface analysis of solids under vacuum condition has made remarkable progress. However, softmatter samples in vacuum atmosphere change their original properties, and are easily damaged by high energy probe beams. Thus, it is not suitable to observe “raw state” of the softmatter samples by the conventional surface analysis techniques. Scanning probe microscopy (SPM) such as atomic force microscopy (AFM) can analyze softmatter samples in moderate condition in air and water. Optical probe technique such as infrared absorption spectroscopy (IRAS) is also nondestructive method to analyze the softmatter samples. Scanning near-filed optical microscopy (SNOM), combined SPM and optical spectroscopy, enables the simultaneous measurements of topography and optical information. Here, we briefly introduce outlines of AFM, MIR-IRAS (Multiple internal reflection IRAS), and SNOM and examples of their applications.

責任著者(Corresponding author)

J-STAGEへの登録はこちら（無料）