表面科学
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酸化物表面のSXM観察
小宮山 政晴
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1991 年 12 巻 8 号 p. 491-495

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抄録

酸化物という試料の化学形態に限定して,走査型トンネル顕微鏡(STM),走査型トンネル分光法(STS)およびSTM由来の原子間力顕微鏡(AFM)など,いわゆるSXMによる研究を概観した。酸化物をその伝導度から半導体酸化物,導電性酸化物,絶縁性酸化物に分け,おのおのの研究例を紹介した。

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© 社団法人 日本表面科学会
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