東京大学物性研究所
1992 年 13 巻 1 号 p. 2-9
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X線回折法により結晶表面構造を基板結晶に対して3次元的に決定する方法の例として,Si(111)(√3×√3)R30°-Ag構造の解析結果を紹介する。逆格子ロッドに沿ったX線回折強度(ロッド・プロファイル)を解析するこの方法では,すべての原子の座標および温度因子を決定可能である。さらに,X線トポグラフィによる表面構造の観察例を示す。
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