(株)東レリサーチセンター
1995 年 16 巻 1 号 p. 45-50
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最近の高分子表面解析技術について解説した。はじめに解析技術の全体について概観し,特に注目される分野をあげた。表面の形態観察では最近のSPM,特にSTM, AFMの応用例を示した。元素分析ではAES, SIMS, RBSの高分子材料への適用について述べた。状態分析では表面化学修飾法を用いたXPSの応用,また最近注目されているTOF・SIMSについても述べた。
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