表面科学
Online ISSN : 1881-4743
Print ISSN : 0388-5321
ISSN-L : 0388-5321
高分子表面の解析技術
石谷 炯
著者情報
ジャーナル フリー

1995 年 16 巻 1 号 p. 45-50

詳細
抄録

最近の高分子表面解析技術について解説した。はじめに解析技術の全体について概観し,特に注目される分野をあげた。表面の形態観察では最近のSPM,特にSTM, AFMの応用例を示した。元素分析ではAES, SIMS, RBSの高分子材料への適用について述べた。状態分析では表面化学修飾法を用いたXPSの応用,また最近注目されているTOF・SIMSについても述べた。

著者関連情報
© 社団法人 日本表面科学会
前の記事 次の記事
feedback
Top