表面科学
Online ISSN : 1881-4743
Print ISSN : 0388-5321
ISSN-L : 0388-5321
STMおよびAFMを用いたナノメーターから原子スケールの構造作製
根城 均, 藤田 大介, Hanyu SHENG, 内橋 隆, Urs RAMSPERGER, Stephane ODASSO, Duncan ROGERS, 岡本 洋, Zhen-Chao DONG, 矢ヶ部 太郎, 大木 泰造, 雨宮 克樹, 惣津 寧
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1998 年 19 巻 11 号 p. 727-733

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抄録

Since it was suggested that individual atoms can be manipulated using scanning tunneling microscope (STM), many attempts have been done to control atoms individually, but they were not successful so far. Here we show some meth-ods for fabricating nanometer- to atomic-scale structures using STM and atomic force microscope (AFM). Focus is put on how to connect these structures to macroscopic electric pads so that electron transport can be measured along these structures.

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© 社団法人 日本表面科学会
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