表面科学
Online ISSN : 1881-4743
Print ISSN : 0388-5321
ISSN-L : 0388-5321
イオン励起分光法による表面研究
宇田 応之
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1981 年 2 巻 3 号 p. 224-231

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抄録

Instruments for surface analyses have greatly improved in the past ten or twenty years. the ion beam technique which has been utilized in the field of nuclear physics. has grown up to a powerful tool for the surface analysis, In this Current Topics, applications to surface science are reviwed. of the backscattering and channeling methods, and of ion-induced X-ray and Auger electron spectroscopies

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